雙變頻介損儀詳細(xì)資料一、使用說明

1.1、主菜單

打開電源開關(guān)，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測試選項(xiàng)進(jìn)行測量。

※ 注：  儀器啟動測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。

1.2、一般測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“一般測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。

分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進(jìn)入測試菜單。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注   意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

雙變頻介損儀詳細(xì)資料1.3、CVT測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進(jìn)入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—8）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注    意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

雙變頻介損儀詳細(xì)資料1.4、CVT變比測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—11）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。  

雙變頻介損儀詳細(xì)資料1.5、正反同測

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—13）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

1.6、LCR測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等LCR測試菜單。

然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—14）。測試結(jié)果自動保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

雙變頻介損儀詳細(xì)資料1.7、絕緣測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測試。

1.8、數(shù)據(jù)查詢

在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時(shí)間的先后所排列的，第000個(gè)數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個(gè)數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號上，可對數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。

1.9、參數(shù)設(shè)置

打開儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單（如圖5—18）后，點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” 、“分” 、“秒” ，*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。

※ 注：

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請以實(shí)際儀器界面為主，僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。

詳細(xì)資料：

全自動介質(zhì)損耗儀是一種先進(jìn)的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測試時(shí)間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度zui快）等特點(diǎn)。體積小、重量輕是我公司的第2代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。