絕緣電阻及介損測試儀優(yōu)勢介紹一、使用說明
1.1、主菜單
打開電源開關，進入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應的測試選項進行測量。
※ 注： 儀器啟動測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機，不要按復位。
1.2、一般測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“一般測試”選項，進入下上等一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點擊“參數(shù)設置”進去設置菜單（如圖5—3）進行詳細的測試參數(shù)設置。
分別點擊每個需要設置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。
相關參數(shù)設置好了后長按“啟動測試”單，進入測試菜單。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結果（如圖5—4）；測試結果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
注 意：每一種測試的具體參數(shù)設置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。
絕緣電阻及介損測試儀優(yōu)勢介紹1.3、CVT測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部的連線，然后點擊主界面“CVT測試”選項，進入下上等CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點擊“參數(shù)設置”進去設置菜單（如圖5—6）進行詳細的測試參數(shù)設置。分別點擊每個需要設置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。
相關參數(shù)設置好了后長按“啟動測試”單，進入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結果（如圖5—8）。測試結果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
注 意：每一種測試的具體參數(shù)設置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。
絕緣電阻及介損測試儀優(yōu)勢介紹1.4、CVT變比測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部的連線， 進入CVT測試菜單在參數(shù)設置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動顯示測試結果（如圖5—11）。測試結果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
絕緣電阻及介損測試儀優(yōu)勢介紹1.5、正反同測
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部的連線， 進入正反同測菜單，在參數(shù)設置中選擇設置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結果（如圖5—13）。測試結果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
1.6、LCR測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點擊主界面“LCR測試”選項，進入下上等LCR測試菜單。
然后可以點擊“參數(shù)設置”進去設置菜單進行詳細的測試參數(shù)設置。分別點擊每個需要設置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結果（如圖5—14）。測試結果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結果。
絕緣電阻及介損測試儀優(yōu)勢介紹1.7、絕緣測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“絕緣測試”選項，進入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設置好相關參數(shù)之后即可點擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進行測試。
1.8、數(shù)據(jù)查詢
在主菜單點擊“數(shù)據(jù)管理”進入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點擊“數(shù)據(jù)查詢”進入。進入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動光標至想要查看的數(shù)據(jù)項目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第000個數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點擊相應的數(shù)據(jù)，進入數(shù)據(jù)打印項目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應的數(shù)據(jù)序號上，可對數(shù)據(jù)進行打印操作。
1.9、參數(shù)設置
打開儀器后直接點擊“參數(shù)設置”進入時間設置界面。進入時間菜單（如圖5—18）后，點擊想要修改的時間數(shù)據(jù)項目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應的“時” 、“分” 、“秒” ，*后點擊保存修改時間設置，點擊取消退出設置并返回主界面。
※ 注：
所有圖片并非實物的全部描敘，請以實際儀器界面為主，僅做參考。
所有步驟在設置不當或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復位鍵退到主菜單重新開始設置。
二、參考接線
（具體請參閱相關規(guī)程）
1、正接法
1、內(nèi)電壓—內(nèi)標準—正接法（電容常規(guī)接線）
2、內(nèi)電壓—正接法（絕緣電阻接線）
3、內(nèi)電壓—外標準—正接法（必須先設置好外接標準容量）
4、外電壓—內(nèi)標準—正接法
5、外電壓—外標準—正接法（必須先設置好外標準容量）
2、反接法
1、內(nèi)電壓—內(nèi)標準—反接法（常規(guī)接線）
2、內(nèi)電壓—外標準—反接法（必須先設置好外標準容量）
3、外電壓—內(nèi)標準—反接法
4、外電壓—外標準—反接法（必須先設置好外標準容量）
3、CVT測試(注意：CVT測試時高壓線應懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起誤差。)
1、CVT同時測試
（一次完成測試）
2、CVT分別測試
（普通測試）
3、不拆高壓引線測試CVT電容值和介損測量模式：CVT自激法。電壓≤ 2kV
4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式：反接法。電壓≤2kV
4、CVT變比測試
5、正反同測
三繞組變壓器CHG+CHL（高壓線屏蔽接T繞組）
三繞組變壓器CLG+CLT（高壓線屏蔽接HV繞組）
三繞組變壓器CTG+CHT（高壓線屏蔽接LV繞組）
1、儀器采用復數(shù)電流法，測量電容、介質損耗及其它參數(shù)。測試結果精度高，便于實現(xiàn)自動化測量。
2、接地保護功能，當儀器不接地線或接地不好時，儀器不進入正常程序，不輸出高壓。
3、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。
4、設CVT測試功能，可實現(xiàn)CVT的自激法測試，無需外置附件，一次測量C1,C2的電容和介損全部測出。
5、儀器操作簡便，測量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量方式，數(shù)據(jù)的測量就可在微處理器控制下自動完成。
6、儀器測量準確度高，可滿足油介損測量要求，因此只需配備標準油杯，和測試線即可實現(xiàn)油介損測量。
7、抗干擾介質損耗測試儀采用了變頻技術來消除現(xiàn)場50Hz工頻干擾，即使在強電磁干擾的環(huán)境下也能測得可靠的數(shù)據(jù)。
8、反接線測試采用ivddv技術，消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。
9、具有反接線低壓屏蔽功能，在220kVCVT 母線接地情況下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線介損測量。
10、過流保護功能，在試品短路或擊穿時儀器不受損壞。
11、抗干擾介質損耗測試儀是一體化機型，內(nèi)附標準電容和高壓電源，便于現(xiàn)場測試，減少現(xiàn)場接線。
變頻抗干擾介損測試儀具有外接標準電容器接口，可外接油杯做精密絕緣油介損試驗，可外接固體材料測量電極做精密絕緣材料介損試驗，也可外接高壓標準電容器做高電壓介損試驗。儀器采用*抗震設計，可耐受強烈長途運輸震動、顛簸而不會損壞。具有正/反接線，內(nèi)/外標準電容，內(nèi)/外高壓多種工作模式，一體化結構，可做各種常規(guī)介損試驗，不需外接任何輔助設備。