絕緣電阻功能高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀在絕緣試驗中的作用一、使用說明

1.1、主菜單

打開電源開關(guān)，進入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測試選項進行測量。

※ 注：  儀器啟動測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機，不要按復(fù)位。

1.2、一般測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“一般測試”選項，進入下上等一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進去設(shè)置菜單（如圖5—3）進行詳細的測試參數(shù)設(shè)置。

分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進入測試菜單。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應(yīng)的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注   意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

絕緣電阻功能高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀在絕緣試驗中的作用1.3、CVT測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點擊主界面“CVT測試”選項，進入下上等CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進去設(shè)置菜單（如圖5—6）進行詳細的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應(yīng)的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—8）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注    意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。

絕緣電阻功能高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀在絕緣試驗中的作用1.4、CVT變比測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—11）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。  

絕緣電阻功能高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀在絕緣試驗中的作用1.5、正反同測

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進入正反同測菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—13）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

1.6、LCR測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點擊主界面“LCR測試”選項，進入下上等LCR測試菜單。

然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進去設(shè)置菜單進行詳細的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—14）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

絕緣電阻功能高壓變頻介質(zhì)損耗測試儀在絕緣試驗中的作用1.7、絕緣測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“絕緣測試”選項，進入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進行測試。

1.8、數(shù)據(jù)查詢

在主菜單點擊“數(shù)據(jù)管理”進入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點擊“數(shù)據(jù)查詢”進入。進入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動光標至想要查看的數(shù)據(jù)項目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第000個數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進入數(shù)據(jù)打印項目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號上，可對數(shù)據(jù)進行打印操作。

1.9、參數(shù)設(shè)置

打開儀器后直接點擊“參數(shù)設(shè)置”進入時間設(shè)置界面。進入時間菜單（如圖5—18）后，點擊想要修改的時間數(shù)據(jù)項目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時” 、“分” 、“秒” ，*后點擊保存修改時間設(shè)置，點擊取消退出設(shè)置并返回主界面。

※ 注：

所有圖片并非實物的全部描敘，請以實際儀器界面為主，僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。

二、參考接線

（具體請參閱相關(guān)規(guī)程）

1、正接法

1、內(nèi)電壓—內(nèi)標準—正接法（電容常規(guī)接線）

2、內(nèi)電壓—正接法（絕緣電阻接線）

3、內(nèi)電壓—外標準—正接法（必須先設(shè)置好外接標準容量）

4、外電壓—內(nèi)標準—正接法

5、外電壓—外標準—正接法（必須先設(shè)置好外標準容量） 

2、反接法

1、內(nèi)電壓—內(nèi)標準—反接法（常規(guī)接線）

2、內(nèi)電壓—外標準—反接法（必須先設(shè)置好外標準容量）

3、外電壓—內(nèi)標準—反接法

4、外電壓—外標準—反接法（必須先設(shè)置好外標準容量）

3、CVT測試(注意：CVT測試時高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起誤差。)

1、CVT同時測試

（一次完成測試）

2、CVT分別測試

（普通測試）

3、不拆高壓引線測試CVT電容值和介損測量模式：CVT自激法。電壓≤ 2kV

4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式：反接法。電壓≤2kV

4、CVT變比測試

5、正反同測

三繞組變壓器CHG+CHL（高壓線屏蔽接T繞組）

三繞組變壓器CLG+CLT（高壓線屏蔽接HV繞組）

三繞組變壓器CTG+CHT（高壓線屏蔽接LV繞組）

介質(zhì)損耗測試儀測試電極適用于固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等的相對介電系數(shù)（ε）與介質(zhì)損耗角正切值（tgδ）的測試。本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對介電系數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角正切值（tgδ）。本電極的設(shè)計主要是參照國標GB1409－2006。

介質(zhì)損耗測試儀內(nèi)部裝備了高壓升壓變壓器，并采取了過零合閘、防雷擊等保護措施，可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備，同時可以測量電容式電壓互感器的tgδ及主電容C1、C2電容量，試驗過程中輸出0。5KV～10kV不同等級的高壓，操作簡單。具有方便、簡單、準確等優(yōu)點，具有高壓短路保護、CVT過壓保護、儀器接地不好保護。

介質(zhì)損耗測試儀還有很多的名稱，有介損測試儀、抗干擾介損測試儀、全自動介損測試儀、異頻介損測試儀、異頻介質(zhì)損耗測試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測試儀、全自動介質(zhì)損耗測試儀。這些都是一個系列的產(chǎn)品，所以當(dāng)別人說起的時候不會覺得陌生，其實都是同類。

介損測量是絕緣試驗中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測量是衡量其絕緣性能的基本方法。

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